HiperS-320i系列成像/多通道光谱仪作为新一代全焦面影像校正光谱仪,主要采用的技术是全焦面非对称影像校正,通过这种技术可以很大程度的抑制多种光学像差,提升光谱仪的信号强度和分辨率水平,从而获得了理想的成像效果,同时使光谱仪在宽波段范围内全焦面都拥有极小的像差,整个像面上所呈现出来的影像效果都接近完美,通常可应用于空间分辨的实验,实现多通道实时探测,很大地提升光谱测试分析质量。
规格参数表(@1200g/mm光栅条件下)
型号 |
HiperS-320i |
焦距(mm) |
320 |
相对孔径 |
F/4.4 |
扫描范围(nm) |
0~1430 |
光谱分辨率(nm)-PMT |
0.06 |
光谱分辨率(nm)-CCD(15um) |
0.12 |
倒线色散(nm/mm) |
2.29 |
波长准确度(nm) |
±0.2 |
波长重复性(nm) |
±0.025 |
*小步距(nm) |
0.005 |
杂散光水平 |
5×10-5 |
焦平面尺寸 |
29 (w) × 14 (h) |
光轴高度(mm) |
156.3~171.3 |
光栅规格 |
68 × 68 |
光栅台 |
三光栅在轴旋转塔台 |
狭缝规格 |
缝宽0.01-3mm连续手动可调,可选配自动狭缝;逢高2,4,14可更换 |
外形尺寸(mm)、重量(kg) |
591 × 460 × 260 (L × W × H),30kg |
通讯接口 |
标配USB2.0,可选RS-232 |
规格参数表@不同光栅 |
||||||
光栅(g/mm) |
2400 |
1800 |
1200 |
600 |
300 |
150 |
倒线色散(nm/mm) |
0.91 |
1.39 |
2.29 |
4.87 |
9.97 |
20.13 |
机械扫描范围(nm) |
0~715 |
0~953 |
0~1430 |
0~2860 |
0~4290 |
0~11440 |
扫描步距(nm) |
0.0025 |
0.0035 |
0.005 |
0.01 |
0.02 |
0.04 |
狭缝光谱分辨率(nm) |
0.03 |
0.04 |
0.06 |
0.12 |
0.24 |
0.48 |
光谱分辨率(nm)-CCD(15um) |
0.048 |
0.073 |
0.12 |
0.256 |
0.523 |
1.06 |
CCD单次摄谱范围(nm@30mm CCD) |
26.4 |
40.3 |
66.4 |
141.2 |
289.1 |
583.8 |
波长准确度(nm) |
±0.1 |
±0.15 |
±0.2 |
±0.4 |
±0.8 |
±1.6 |
波长重复性(nm) |
0.015 |
0.02 |
0.025 |
0.05 |
0.1 |
0.4 |
注1:狭缝光谱分辨率,常规光谱仪在中心波长435.83nm,狭缝宽度10um;
注2:CCD单次摄谱范围、倒线色散为中心波长为435.83nm下的典型值,随着中心波长增加,摄谱范围变窄;
注3:随着中心波长的增大,倒线色散数值减小,随着中心波长减小,倒线色散数值增大;
注4:直入狭缝无法配置电动狭缝。
典型型号表
型号 |
描述 |
HiperS-3204i |
侧入口、CCD双出口 |
HiperS-3205i |
侧入口、狭缝直出口 |
HiperS-3206i |
侧入口、CCD直出口 |
HiperS-3207i |
侧入口、狭缝双出口 |
HiperS-3208i |
侧入口、CCD直出口、狭缝侧出口 |
HiperS-3224i |
双入口、CCD双出口 |
HiperS-3227i |
双入口、狭缝双出口 |
HiperS-3228i |
双入口、CCD直出口、狭缝侧出口 |
HiperS-3247i |
侧入口、狭缝双出口、紫外镀膜 |
HiperS-3248i |
侧入口、CCD直出口、狭缝侧出口、紫外镀膜 |
注1:本型号系列,为手动狭缝(电动狭缝需要额外选择) |
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注2:本型号系列,需要额外选配光栅,*多可配置3块光栅; |
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注3:本型号系列,不包含滤光片轮、快门,需要额外选择附件 |
品牌: | 卓立汉光 |
加工定制: | 是 |
型号: | HiperS-320i |
波长范围: | 0~1430 nm |
焦距: | 320 mm |
外形尺寸: | 591 × 460 × 260 (L × W × H) mm |
重量: | 20000 g |
通讯接口: | 标配USB2.0,可选RS-232 |