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华科智源半导体分立器件测试仪HUSTEC-2005
199.00
广东深圳宝安区
深圳市华科智源科技有限公司
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  • 产品参数

半导体分立器件测试仪基础配置:

技术参数

ENJ2005-B型

主极电流

100nA-50A

扩展电流

100A、500A、1000A、1300A

电压分辨率

1mV

电流分辨率

1nA(可扩展至10pA)

测试精度

0.2%+2LSB

测试速度

0.5mS/参数

半导体分立器件测试仪

是专为测试半导体分立器件和大功率半导体模块器件而研发设计。它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力,能够真实准确测试以下类型的半导体器件以及相关器件组成的组合器件、器件阵列: 

 

 

 

序号

 

测试元件类别

 

别称

1

                    二极管

DIODE

2

  晶体管       

 TRANSISTOR(NPN型/PNP型)

3

J型场效应管

J-FET

4

MOS场效应管  

MOS-FET

5

双向可控硅

TRIAC

6

可控硅

SCR

7

绝缘栅双功率晶体管

IGBT

8

硅触发可控硅

STS

9

达林顿阵列

DARLINTON

10

光电耦合

OPTO-COUPLER

11

继电器

RELAY

12

稳压、齐纳二极管

ZENER

13

三端稳压器

REGULATOR

14

光电开关

OPTO-SWITCH

15

光电逻辑

OPTO-LOGIC

16

金属氧化物压变电阻

MOV

17

固态过压保护器

SSOVP

18

压变电阻

VARISTOR

19

双向触发二极管

DIAC

品牌:华科智源
型号:HUSTEC-2005
加工定制:
测量范围:igbt mos bjt
测量精度:Vcesat Vgeth lces lges
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