SIC参数器件测试仪华科智源♦产品特点

 测试系统电压以1500V为一个模块，电流以2000A为一个模块，可扩展至10KA/10KVØ
 内置7颗标准电感负载可选用, 另有外接负载接口,可实现不同电感和电阻负载测试需要(20/50/100/200/500/1000/2000uH)Ø
 另有程控式电感箱可供选择Ø
 针对不同结构的封装外观，通过更换 DUT适配器即可Ø
 可进行室温到200℃的变温测试,也可实现子单元测试功能Ø
 测试软件具有实验模式和生产模式，测试数据可存储为Excel文件Ø
 门极电阻可任意调整, 系统内部寄生电感为*小至50nHØ
 系统测试性能稳定,适合大规模生产测试应用（24hr 工作）Ø
 安全稳定（PLC 对设备的工作状态进行全程实时监控并与硬件进行互锁）Ø
 系统具有安全工作保护功能，以防止模块高压大电流损坏时对使用者造成伤害，设计符合CE认证Ø
 支持半自动和全自动测试Ø
 采用品牌工控机，具有抗电磁干扰能力强，排风量大等特点Ø
 自动化：单机测试时只需手动放置DUT，也可连接机械选件实现自动化测试线Ø
 智能化，通过主控计算机进行操控及数据编辑，测试结果自动保存及上传指定局域网Ø
Ø轨道级IGBT模块动态参数测试仪具有 安全性，防爆，防触电，防烫伤，短路保护等多重保护措施，确保操作人员、设备、数据及样品安全。

SIC参数器件测试仪华科智源轨道级IGBT模块动态参数测试仪厂家直供。
产品系列
晶体管图示仪
半导体分立器件测试筛选系统
静态参数测试（包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等）
动态参数测试（包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等）
环境老化测试（包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等）
热特性测试（包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等）
可测试 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件