ITO薄膜是一种n型半导体材料，具有高的导电率、高的可见光透过率、高的机械硬度和良好的化学稳定性。它是液晶显示器（LCD）、等离子显示器（PDP）、电致发光显示器（EL/OLED）、触摸屏（TouchPanel）、太阳能电池以及其他电子仪表的透明电极*常用的薄膜材料。ITO薄膜是一种很薄的金属薄膜，在透明导电薄膜方面得到普遍的应用，具有广阔的前景。但薄膜的厚度是否均匀直接关系到企业的生产成本控制，所以对ITO薄膜厚度的高精度测量，是企业必须重视的检测项目之一。
Labthink兰光研发生产的C640测厚仪，是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪，适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。可选配自动进样机，更加准确、高效的进行连续多点测量。
ITO薄膜厚度测量仪技术特征：
① C640M型号参数：
测试范围（标配）：0～2mm
分辨率：0.1μm
重复性：0.8μm
测量范围（选配）：0～6、0～12mm
测量间距：0～1000mm（可设定）
进样速度：1.5～80mm/s（可设定）
附加功能：
自动进样机：可选配置
DataShieldTM数据盾：可选配置
GMP计算机系统要求：可选配置
测量方式：机械接触式
测量压力及接触面积：
薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2
纸张：100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa（可选配置）、200 mm2
电源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz
外形尺寸：370mm（L）× 350mm（W）× 410mm（H）
净重：26kg
② C640H型号参数：
测试范围（标配）：0～2mm
分辨率：0.1μm
重复性：0.4μm
测量范围（选配）：0～6、0～12mm
测量间距：0～1000mm（可设定）
进样速度：1.5～80mm/s（可设定）
附加功能：
自动进样机：可选配置
DataShieldTM数据盾：可选配置
GMP计算机系统要求：可选配置
测量方式：机械接触式
测量压力及接触面积：
薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2
纸张：100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa（可选配置）、200 mm2
电源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz
外形尺寸：370mm（L）× 350mm（W）× 410mm（H）
净重：26kg
以上【ITO薄膜厚度测量仪】信息由济南兰光机电技术有限公司发布，如欲了解更详细信息，欢迎致电 垂询！
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