技术参数:
型号 |
TS-D2 |
理论依据 |
Mie散射理论 |
粒径测量范围 |
0.1-400um |
光源 |
半导体制冷恒温控制红光固体激光光源,波长635nm |
重复性误差 |
<1%(标准D50偏差) |
测量误差 |
<1%(标准D50偏差,用国家标准颗粒检验) |
检测器 |
32或48通道硅光电二极管 |
样品池 |
干法样品池 |
测量分析时间 |
正常条件下小于1分钟(从开始测量到显示分析结果) |
输出内容 |
体积、数量微分分布和累积分布表和图表;多种统计平均直径;操作者信息;实验样品信息、分散介质信息等。 |
显示方式 |
内嵌10.8寸工业级别的电脑,可连接键盘、鼠标、U盘 |
电脑系统 |
WIN 10系统,30GB硬盘容量、2GB系统内存 |
电源 |
220V,50 Hz |
工作条件:
l 1.室内温度:15℃-35℃
l 2.相对温度:不大于85%(无冷凝)
l 3.建议用交流稳压电源1KV,无强磁场干扰。
l 4.由于在微米级的范围内的测量,仪器应放在坚固可靠、无振动的工作台上,并且在少尘条件下进行测量。
l 5.仪器不应放在太阳直射、风大或温度变化大的场所。
l 6.设备必须接地,保证安全和高精度。
l 7.室内应清洁、防尘、无腐蚀性气体。
工作原理:
由一个特制的半导体制冷恒温控制635nm红光固体激光光源,发出的激光经滤波处理,通过透镜照到样品池,当样品池中无颗粒时,激光会聚在探测器中心,当样品池中有颗粒,激光被散射,散射出来的相同方向的光聚焦到焦平面上,在这个平面上放置一个独特设计具有32或48通道的硅光电二极管扇形光靶检测器,用来接收散射光能的分布,光电检测器把照射到每个环面上的散射光能转换成相应的信号,在这些电信号中包含有颗粒粒径大小及分布的信息,电信号经放大和模数转换后一起送入计算机,计算机根据测得的各个环上的衍射光能值按预先编好的计算机程序可以很快地解出被测颗粒的平均粒径及尺寸分布,计算结果在显示屏上显示或由打印机输出。
该系统内置了一套由计算机控制超声分散装置,利用超声的空化作用使团聚的颗粒分散,颗粒分散可保证测试的准确性和高度重复性。除分散技术外,还内置了循环泵 ,从而保证测试过程中大颗粒不丢失。该系统可以使样品的测量和分散同时进行,样品池为立式装置,水流由下往上流动,从而避免大颗粒沉淀和气泡滞留对测量造成影响。进水、测量、排水、清洗完全由计算机操作来完成。
本仪器校准采用国家粒度标准样GBW(E)120009C型玻璃球粒度进行测试,分布范围:2-60μm.D50的标值为40.1μm,同时对单分散标准微球SiO2进行测试,平均粒径1030nm.
测试结果可靠性的判断:
在判断测量结果的可靠性时,首先应检查仪器的工作状态(如接地、背景光的测量信号等),是否正常,其性能特点(如动态范围、分辩率)是否适合你要测的样品,测量规程及操作条件是否被遵守,每种仪器都有特定的操作规程(如测量开始前的预热、背景光的测量、样品制备),适用环境条件(如温度、湿度、电压),测试条件(如样品浓度、分散剂选用、介质的选择等都是应该被遵守)。
重复性既是衡量仪器自身性能的重要指标,也是衡量测量结果可靠性的重要参数,当然,仪器本身的重复性是测好样品的前提,但是当操作不当或样品较难测量时(如颗粒密度较大等),即使有好的仪器,也未必能测到真实的结果。如果重复性不好,结果是不可靠的,必须找出影响重复性的因素并排除。测量参数(如折射率)样品的分散、浓度、仪器状态、环境等因素都会反映到结果的重复性上。
测量之前样品必须经过充分分散处理,样品分散不良时,测到的结果偏大,有时还不稳定。显微镜是观察分散好坏的有用工具。品牌: | 群弘仪器 |
加工定制: | 否 |
型号: | TS-D2 |
类型: | 激光 |
测量范围: | 0.1-400 um |
测量准确度: | 99 % |
测量重复性: | 1 % |
测量时间: | 55 s |