型号

TS-DW2

理论依据

Mie散射理论

粒径测量范围

0.1-400um

光源

半导体制冷恒温控制红光固体激光光源，波长635nm

重复性误差

<1%（标准D50偏差）

测量误差

<1%（标准D50偏差，用国家标准颗粒检验）

检测器

32或48通道硅光电二极管

样品池

固定样品池10mL、循环样品池（500mL内置超声分散装置）、干法样品池

测量分析时间

正常条件下小于1分钟（从开始测量到显示分析结果）

输出内容

体积、数量微分分布和累积分布表和图表；多种统计平均直径；操作者信息；实验样品信息、分散介质信息等。

显示方式

内嵌10.8寸工业级别的电脑，可连接键盘、鼠标、U盘

电脑系统

WIN 10系统，30GB硬盘容量、2GB系统内存

电源

220V，50 Hz