技术参数:
型号 |
TS-DW1 |
理论依据 |
Mie散射理论 |
粒径测量范围 |
0.1-200um |
光源 |
半导体制冷恒温控制红光固体激光光源,波长635nm |
重复性误差 |
<1%(标准D50偏差) |
测量误差 |
<1%(标准D50偏差,用国家标准颗粒检验) |
检测器 |
32或48通道硅光电二极管 |
样品池 |
固定样品池10mL、循环样品池(500mL内置超声分散装置)、干法样品池 |
测量分析时间 |
正常条件下小于1分钟(从开始测量到显示分析结果) |
输出内容 |
体积、数量微分分布和累积分布表和图表;多种统计平均直径;操作者信息;实验样品信息、分散介质信息等。 |
显示方式 |
内嵌10.8寸工业级别的电脑,可连接键盘、鼠标、U盘 |
电脑系统 |
WIN 10系统,30GB硬盘容量、2GB系统内存 |
电源 |
220V,50 Hz |
品牌: | 群弘仪器 |
加工定制: | 否 |
型号: | TS-DW1 |
类型: | 激光 |
测量范围: | 0.1-200um um |
测量准确度: | 99 % |
测量重复性: | 1 % |
测量时间: | 55 s |