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德国Fischer镀层厚度测量仪X-RAY XDL
458000.00
广东深圳
深圳市泰立仪器仪表有限公司
10年 | 指数:215 | 工商已认证
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德国FISCHERSCOPE 镀层厚度测量仪 X-RAY XDL

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230
X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪,采用手动方式,测量和分析印刷电路板、防护及装饰性镀层及大规模生产的零部件上的镀层。


FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237 
X 射线荧光材料分析及镀层测厚仪,配备可编程运行 X/Y 工作台及 Z 轴升降系统,全自动测量超薄镀层厚度和分析材料成分。


FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® 240
X射线荧光镀层测厚及材料分析仪,用于无损测量镀层厚度及分析材料成分


FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 250
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 252
高性能X射线荧光材料分析及镀层测厚仪,用于快速、无损分析材料成分及测量镀层厚度

 
品牌:德国Fischer
加工定制:
型号:X-RAY XDL
类型:镀层
测量范围:0-8 mm
电源电压:220 V
外形尺寸:570*760*650 mm
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