德国Fischer测量分析超薄镀层厚度仪器 XRAY XAN 250 和 XAN 252

简介

FISCHERSCOPE XRAY XAN 250 和 XAN 252 两款仪器都是结构紧凑且应用广泛的能量色散型X射线荧光测厚及镀层测厚仪，通常用于无损测量镀层厚度及分析材料成分。

XAN 250 和 XAN 252 特别适合测量和分析超薄镀层，即使镀层成分复杂或含量微小也都能准确测量。

典型的应用领域

·在电子和半导体工业中，测量功能性镀层，镀层厚度*薄可低至数纳米

·出于保护消费者为目的的痕量分析，如玩具中的铅含量等

·在珠宝、手表业及金属冶炼业中，以*高的精度分析合金成分

·高科院校的学术研究以及工业领域的技术研发

为了使每次测量都能在良好的条件下进行，仪器配备了可电动切换的多种准直器及基本滤片。先进的硅漂移接收器能够达到非常高的分析精度及探测灵敏度。

正如所有的 FISCHERSCOPE XRAY 仪器一样，本款仪器有着出色的精确性以及长期的稳定性，这样就显著减少了校准仪器所需的时间和精力。对于高精度要求的测量任务，则可随时进行必要的校准。

依靠 FISCHER的基本参数法，可以在没有校验标准片校正的情况下，准确分析固、液态样品的成分及测量样品的镀层厚度。

德国FISCHER荧光测厚及材料分析仪XRAY XAN 250 和 XAN 252

XAN 250 和 XAN 252 两款仪器都是用户界面友好的台式测量仪器。它们的区别在于工作台及测量箱的尺寸。

·XAN 250:固定工作台

·XAN 252: 手动 XY 工作台，用于细小样品的精确定位，并装配了大体积测量室。

为了样品定位简单快捷，X射线发生器和半导体接收器都集成在仪器下部舱室中，因而样品的底部是实际被测量面，样品则由一层透明的薄膜托放在测量室中。

内置可变焦视频系统和定位十字线，可以方便地放置样品，并进行精确的测量点调整。

通过功能强大、界面友好的 WinFTM·软件，可以在计算机上便捷地完成整个测量过程，以及测量结果的数据分析和所有相关信息的显示等。

FISCHERSCOPE XRAY XAN 250 和 XAN 252 满足 DIN ISO 3497 标准和 ASTM B 568 标准，型式许可符合德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV"法规的规定。