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美国GE贝克休斯探头MWB90
8800.00
广东深圳
深圳市泰立仪器仪表有限公司
10年 | 指数:215 | 工商已认证
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美国GE贝克休斯探头MWB90

探头分为两大类:接触式和水浸式

接触法探头
直探头---单晶
·被检测件有规则外形和相对光滑的接触表面
·接触面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的声束探测
·适于穿透厚部件
·延迟块用以提高近场分辨率
·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
·通常用于手动检测
直探头--双晶
·接受发射单元用串扰挡板分开
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的声束探测
·近表面分辨率好,用于较薄部件
·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
·通常用于手动检测
斜探头
·晶片安装在内置的或者可更换的斜块上
·利用折射让纵波或者横波沿确定角度传播
·大多数标准探头通过模式转换产生横波
·适于倾斜缺陷的检测,如焊缝
·有单晶探头和双晶探头
·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
·有时用于机械化或自动化检测

水浸法探头
水浸探头
·在水中匹配好,效率高
·适于具有不规则表面的被检测件
·通常用于机械化或者自动化检测
·耦合一致性好,检测重复性高
·大型零件可以采用探头架,溢流法或者水射流法
·探头聚焦可以增进效果

这些探头基本上能满足所有常规检测要求。这些常规探头都能用于各种标准超声探伤仪。这些探头性能优越,可靠性高,能满足非常严格的应用要求,精度高,我们探头的技术参数都能控制在允许的误差范围内。
双晶探头
型号 频率(MHZ 换能器尺寸(mm 尺寸Φ(mm) 高度(mm  
SEB* 1, 2, 4 6 x 20 or 7 x 18 45 65  
MSEB* 2, 4, 5 3 x 10 or Ø 8 (halved) 25 45  
SEB*KF 2, 4, 5, 6, 10 Ø 7 or Ø 5 (halved) 13 17  
直探头
B+S
MB*S
1, 2, 4, 5
2, 4, 5
24
10
45
25
59
43
 
K*G
K*N
K*K
1, 2, 4, 6
2, 4, 6, 10
2, 5, 10, 15
24
10
5
45
25
11
60
43
17
 
B*F
MB*F
1, 2, 4, 5
2, 4, 5, 6, 10
20
10
31
19
15
15
 
斜探头 频率(MHZ 晶片尺寸(mm×mm)
WB 35-*
WB 45-*
WB 60-*
WB 70-*
WB 80-*

WB 90-*
MWB 35-*
MWB 45-*
MWB 60-*
MWB 70-*
MWB 80-*
MWB 90-*
2, 4
1, 2, 4
1, 2, 4
1, 2, 4
2, 4

2
2, 4
2, 4
2, 4
2, 4
2, 4
4
20 x 22


 
 
 
 
8 x 9
53.5
53.5
53.5
53.5
53.5

53.5
27
27
27
27
27
27
29
29
29
29
29

29
15
15
15
15
15
15
45
45
45
45
45
45
22
22
22
22
22
22
品牌:美国GE
型号:MWB90
加工定制:
用途:探伤仪测厚仪探头
是否进口:
产地:美国
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