美国GE贝克休斯测厚探头DA412

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美国GE贝克休斯测厚探头DA412

￥5500.00

广东深圳

深圳市泰立仪器仪表有限公司

10年

指数：215

工商已认证

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产品参数

美国GE贝克休斯测厚探头DA412

接触法探头
直探头---单晶
·被检测件有规则外形和相对光滑的接触表面
·接触面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的声束探测
·适于穿透厚部件
·延迟块用以提高近场分辨率
·需要耦合层，一般为凝胶，油类，浆糊
·通常用于手动检测
直探头--双晶
·接受发射单元用串扰挡板分开
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的声束探测
·近表面分辨率好，用于较薄部件
·需要耦合层，一般为凝胶，油类，浆糊
·通常用于手动检测
斜探头
·晶片安装在内置的或者可更换的斜块上
·利用折射让纵波或者横波沿确定角度传播
·大多数标准探头通过模式转换产生横波
·适于倾斜缺陷的检测，如焊缝
·有单晶探头和双晶探头
·需要耦合层，一般为凝胶，油类，浆糊
·有时用于机械化或自动化检测

水浸法探头
水浸探头
·在水中匹配好，效率高
·适于具有不规则表面的被检测件
·通常用于机械化或者自动化检测
·耦合一致性好，检测重复性高
·大型零件可以采用探头架，溢流法或者水射流法
·探头聚焦可以增进效果

用于壁厚测量的探头，特别地与我们的数字测厚仪相匹配

测厚仪	量程 [mm]	短号码 [订购号码]	接触面积Ø [mm]	f [MHz]	温度 [℃]	电缆	备注
DM4..	1.2-200 0.6-50	DA301 DA312	12.5 7.5	5 10	20 +60 -20 +60	DA231 DA235
	5-300 7-60	DA303 DA0.8G	17 29	2 0.8	-20 +60 -10 +60	DA231 DA231
	2-80 1.0-15 5-150 4-60 1-50	DA317 DA319 DA315 DA305 HT400	12.5 7.5 17 16 13	5 10 2 5 5	25 +300 25 +300 25 +300 10 +600 -10 +540	DA233 DA233 DA233 DA235 KBA535	短时间接触
	0.6-20 0.7-12	DA312B11 DA312B16	4 3	10 10	-20 +60 -20 +60	固定 1 . 5 米电缆
	对话技术
	1.2-200 0.6-50	DA401 DA412	12.5 7.5	5 10	-10 +60 -10 +60	DA231 DA235
	5-300 7-60	DA403 DA408	17 29	2 0.8	-10 +60 -10 +60	DA231 DA231

品牌：	美国GE
型号：	DA412
加工定制：	否
用途：	探伤仪测厚仪探头
是否进口：	是
产地：	美国

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