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法国Phasics紫外高分辨率波前传感器,SID4型号系列
400000.00
广东深圳龙岗区
深圳维尔克斯光电有限公司
6年 | 指数:130 | 工商已认证
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190-400nm紫外相应高灵敏度的紫外高分辨率波前分析仪
      基于Phasics独特的SID4四波横向剪切干涉技术所开发的专利技术,高分辨率波前传感器SID4-UV可覆盖190-400 nm紫外检测波段,在紫外线光谱中提供了无与伦比的高分辨率(355x280测量点)和非常高的灵敏度(1 nm RMS)。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前探测、分析提供了全新方案。
基于独特的专利技术,法国Phasics公司的波前传感器具备高灵敏度及高相位分辨率的特点,即插即用的适用类型适用于大多数用户的应用环境。法国Phasics公司为用户提供两款紫外检测波前分析仪,SID4-UV和SID4-UV-HR。

      相比之下,SID4-UV适用于250-400 nm波段的紫外光谱,250 × 250的取样分辨率、2 nm RMS的相位灵敏度以及7.4 × 7.4 mm²的靶面面积足以满足大部分用户需求,相比于SID4-UV-HR更具备成本效益,在满足用户使用需求的前提下有效的节约用户成本。

      其中SID4-UV-HR作为SID4-UV的增强款,该设备在190-400 nm的紫外波段有着极高的相位分辨率(355×280取样分辨率)、极高的相位灵敏度(优于1 nm RMS)以及更大的靶面面积(13.8 x 10.88 mm²)。这使得SID4-UV-HR适用于光刻、半导体等领域,尤其适用于透镜或晶圆等的光学组件表征以及波前像差,波前曲线的波前探测需求。


高分辨率波前传感器应用领域:
-天文观测
-航空航天工业
-半导体加工

-工业激光
-光学元件及组装
-增强现实-虚拟现实

SID4-UV高分辨率波前传感器产品规格:
型号 SID4-UV
波长范围 250 - 400 nm
靶面尺寸 7.4 x 7.4 mm²
空间分辨率 29.6 µm
取样分辨率 250 x 250
相位分辨率 2 nm RMS
绝对精度 10 nm RMS
取样速度 30 fps
实时处理速度* > 2 fps (全分辨率下)*
接口种类 以太网口
尺寸(宽x高x长) 78 x 88.1 x 71.1 mm³
重量 约575g
*使用官方电脑搭载SID4软件环境下



高分辨率波前传感器主要特点:
-190-400 nm紫外波段响应
-1 nm RMS高相位灵敏度
-355 × 280超高相位取样分辨率


紫外波前分析仪主要特点:
-250 - 400 nm紫外波段响应
-2 nm RMS高相位灵敏度
-250 × 250超高相位取样分辨率

高分辨率波前传感器产品应用:
-激光检测
-自适应光学检测
-等离子体检测
-光学元件及光学系统计量

SID4-UV-HR高分辨率波前传感器产品规格:
型号 SID4-UV-HR
波长范围 190 - 400 nm
靶面尺寸 13.8 x 10.88 mm²
空间分辨率 38.88 µm
取样分辨率 355 x 280
相位分辨率 1 nm RMS
绝对精度 10 nm RMS
取样速度 30 fps
实时处理速度* > 3 fps (全分辨率下)*
接口种类 CameraLink
尺寸(宽x高x长) 51 x 51.1 x 76 mm³
重量 约300g
*使用官方电脑搭载SID4软件环境下




高分辨率波前传感器产品应用:
-激光检测
-自适应光学检测
-等离子体检测
-光学元件及光学系统计量
-波前曲线检测
 
品牌:Phasics
型号:SID4-UV
加工定制:
测量范围:190-400nm
测量精度:1 °
外形尺寸:1 mm
用途:1
长度:1 mm
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