概述

TBPS01近场探头EMI辐射测量有H20，H10，H5和E5是磁场（H）和电场（E）探头，用于辐射发射EMC预一致性测量。探头用于电磁辐射源的近场。它们用于在电子组件的构造块中定位和识别潜在的干扰源。这些探针的作用类似于宽带天线，用于拾取组件，PCB迹线，外壳开口或缝隙以及可能发射射频的任何其他部件的辐射。探头通常连接到频谱分析仪。在PCB组件或外壳的表面上扫描探针可以快速确定发出电磁辐射的位置。通过更换为较小尺寸的探头，可以进一步缩小发射源的范围。其他应用是通过将RF信号馈入探头并将其辐射到潜在敏感的电路部分中来进行RF抗扰度测试：此外，近场探头EMI辐射测量可用于维修或调试领域，以通过减少接触式RF测量来跟踪RF信号链中的问题。信号电平。另一种应用是对射频构件（例如调制器或振荡器）的无创测量。频率，相位噪声和频谱分量可以与低噪声前置放大器一起测量。

应用：

EMI辐射预测/整改

探头尺寸：

频率响应：

耦合衰减：