适用于生产应用的高质量
X射线检测
QuadraTM 3 可用于高放大倍率下的高质量X射线
检测,实现各类生产应用的质量控制。
可检测各种制造缺陷,包括BGA、QFN和IGBT
焊接,PTH填充,界面空洞,元器件开裂和伪造
产品。
*精准、*精细的查看
清晰而易于识别的图像可快速显示缺陷。Nordson
DAGE的 AspireTM FP 探测器由自主设计和制造,
专用于电子样品检测。
简单即标准
借助Quadra独特的双倾斜轴几何结构,可以快
捷方便地找到缺陷。可从各个角度下高放大倍
率查看每个细节,而无需旋转样品。
无需维修
QuadraNTTM X射线源采用免换灯丝的专利技
术,因此无需定期进行预防性维护工作,从而
减少了停机时间和运行成本。