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SYSTESTER质子交换膜厚度均匀性测试仪 思克THI系列
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山东济南
济南思克测试技术有限公司
10年 | 指数:250 | 工商已认证
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质子交换膜厚度均匀性测试仪
 
执行标准:GB/T 6672GB/T 451.3GB/T 6547ASTM D645ASTM D374ASTM D1777TAPPI T411ISO 4593ISO 534ISO 3034DIN 53105DIN 53353,适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
测厚仪
技术指标:
测量范围:0~2mm(标准)
                  0~10mm(可选)
分 辨 率:0.1μm
测量速度:1~25次/min(可调)
测 量 头:薄膜:50mm2,17.5±1kPa(标配)
纸张:200mm2,50±1kPa(可选)        
电    源:AC 220V 50Hz
外形尺寸:330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)
净    重:38kg


产品特点:
接触式测量原理
德国进口测厚传感器
扁平化人机交互界面显示
真彩色液晶显示试验数据、结果
手动、循环、预约定时多种测量模式
测试过程全自动完成
本机内置历史数据查询功能
配置微型打印机,可自动打印单次、统计报告
配置标准通信接口
可支持DSM实验室数据管理系统,实现数据统一管理(选购)

 
品牌:SYSTESTER
加工定制:
型号:THI系列
类型:薄膜
测量范围:0~2mm mm
显示方式:数显
电源电压:220 V
外形尺寸:无 mm
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