FT-HW系列低湿型高低温湿热试验箱，除了可仿真产品在一般气候环境温湿组合条件下(高低温操作&储存、温度循环、高温高湿、结露试验)..等，去检测产品本身的适应能力与特性是否改变，以及针对产品在(低温低湿、高温低湿、高温高湿降到低温低湿..等)环境下是否会发生龟裂、破损，另外在低湿环境中的空气静电量是一般环境的30倍以上，据统计，半导体破坏率：59%是由静电所引起的。
※ 需符合国际性规范之要求(IEC、JIS、GB、MIL…)以达到国际间量测程序一致性(含测试步骤、条件、方法)避免认知不同，并缩小量测不确定的因素范围发生。

采用德国干燥吸附式技术，有效控制产品在受热胀冷缩时表层凝露及低湿效果

5%RH：20℃/5%RH、50℃/5%RH
7%RH：40℃/7%RH
10%RH：10℃/10%RH、15℃/10%RH、25℃/10%RH、30℃/10%RH、55℃/10%RH
15%RH：10℃/15%RH
20%RH：20℃/20%RH