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日立HITACHI手持式X射线荧光分析仪X-MET8000
168800.00
广东深圳
深圳市泰立仪器仪表有限公司
10年 | 指数:210 | 工商已认证
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日立HITACHI手持式X射线荧光分析仪X-MET8000

简介
数秒内得到实验室质检结果,可提供快速无损的分析以及准确的牌号识别,实现理想的质检和质保。该分析仪将高性能 X 光管和大面积硅漂移探测器 (SDD) 结合在一起,能够为客户提供各种质量检验应用。


 

应用广泛

废旧金属分拣,材料可靠性鉴定,无损金属检测,矿物勘探,符合性检测,土壤分析等。 测量原理:X射线是指波长为0.001-50nm的电磁辐射,由于X射线的能量较高,原子的内层电子吸收X射线的能量后会激发成为自由电子。然后,外层的电子会填补内层电子的空位,这就是电子迁跃,电子跃迁的同时会放射X射线荧光。电子跃迁的能量等于两电子能级之间的能量差,因此,X射线荧光的能量或波长是具有特征性的,与元素有一一对应的关系。只要测出荧光X射线的波长,就可以知道元素的种类。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此可以进行元素的定量分析。
 


 
品牌:日立HITACHI
型号:X-MET8000
加工定制:
光源:X射线
波长范围:1610 nm
焦距:400 mm
外形尺寸:300 mm
重量:1500 g
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