美国GE超声波直探头B1SL
￥5850.00
5850
广东深圳
美国GE超声波直探头B1SL
应用
般检测目的，简单形状的大零件
锻件，铸件
板材，棒材，方型材
容器，机器零件，壳体
高温检测时带延迟块
性能特征
欧款有可更换膜:
在不平整和曲面上增进耦合
延长探头寿命
适于DGS缺陷评定
可连接高温延迟块
Lemp1(BS)或Lem 00(B S)连接端口，标准为侧装，顶装可选
美款有三种类型的保护:
膜可以在不平整和曲面上增进耦合,
帽定期更换可无期限延长探头寿命
高温延迟块可以实现，00°F(00°C)表面检测
BNC 连接端口，顶装或侧装带保护膜探头一欧洲规格
B1S
57744 240.94123 0.9
230.9符合 DINEN 12668-2B1S-EN500035240.941
B1S-0
B2S
23 0.9顶端接口57755 240.941
57745 240.94245 1.8
B2S-EN45 1.8符合 DIN EN 12668-2500036 240.942
B2S-057756 240.94245 1.8顶端接口
符合 DINEN 12668-2B2S-0-EN 500267 240.94 245 1.8顶端接口
B4S
88 3.557746 240.94 4
B4S-EN500037 240.94 488 3.5符合 DIN EN 12668-2
B4S-057757 240.94 488 3.5顶端接口
符合 DINEN 12668-2B4S-0-EN 500268240.94488 3.5顶端接口
B5S57747240.94 51104.3
MB2S57748 100.3928 0.3
500038100.39280.3符合DINEN12668-2MB2S-EN
MB2S-057975 100.3928 0.3顶端接口
MB4S57749 100.39416 0.6
MB4S-EN500039 100.394160.6符合DINEN 12668-2
MB4S-057976 100.394160.6顶端接
MB5S57750100.39520 0.8
MB5S-057977 100.3920 0.8顶端接口
B0.05N
B0.05NN
B0.05U/E
B0.05U/S
B0.1N
B0.1NN
B0.5SL
B1F-E
B1KE
B1KS
B1S-E
B1S-EX
B1SL
B1S-OE
B1Y
B2F-E
B2S-E
B2S-EX
B2SL
B2S-OE
B2S-X
B2Y
B4F-E
B4S-E
B4S-EX
B4S-OE
B5F-E
B5S-E
| 品牌： | 美国GE |
| 型号： | B 系列 |
| 加工定制： | 否 |
| 类型： | 超声波 |
| 测量范围： | 3500 |
| 分辨率： | 高 |
| 尺寸： | 20 mm |
| 重量： | 0.1 kg |
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