K2N陶瓷表面直探头美国GE
美国GE陶瓷表面直探头 K..G和K..N:小型探头,用于探测小型物体上的非常小的反射物,或者大的,通常用作由不同材料(如钢、金属、玻璃、瓷、陶瓷)制成的小、中和大尺寸的物体的测试。由于具有好的分辨率。
特性:非常好的穿透性 、高的远场分辨率、 高的抗磨损性
注释:
粗体=首选探头,带简短注释说明
O=提供探头数据表
O=提供DGS标尺
关于表中数据的解释,见第4页中选择标准。
关于声束形状见第37页中声束形状编号。
类型
[订购号码] |
D [mm] [mm] |
f* [MHz] |
AB* |
N [mm] |
EB [mm] |
声束形状
编号 |
备注 |
草图 |
特性带宽:70% |
K1G
K2G
K4G |
24
24
24 |
1
2
4 |
15-2300
10-4000
7-8000 |
23
45
88 |
7
3.5
1.8 |
1-24
2-24
4-24 |
|
类型5 |
特性带宽:70% |
K1N
K2N
K4N
K5N
K6N |
10
10
10
10
10 |
1
2
4
5
6 |
15-420
7-2500
5-5000
4-6300
3-7600 |
4
8
16
20
23 |
8
3.5
1.8
1.5
1.2 |
1-10
2-10
4-10
5-10
6-10 |
|
类型6 |
性带宽:60% |
K2K
K5K
K10K
K15K |
5
5
5
5 |
2
5
10
15 |
7-300
5-2100
2-3000
2-3800 |
2.0
5.0
10
15 |
2.5
1.5
1
0.7 |
2-5
5-5
10-5
15-5 |
|
类型7 |
*) 用于无衰减材料时规定的操作量程上限。实际上,如果频率增加,则上限急剧降低。
提供其它频率、单元直径、带宽或设计的探头。
附件描述 |
类型 |
备注 |
探头电缆(2米)
类型
耦合剂 |
MPKL2
MPKM2
ZG-F |
用于K..G, K..N
用于K..K
见36页 |
美国GE超声波探头
主要特性:
•单晶探头用于超声脉冲的发射和接收
•通过水延迟通道进行纵波或横波的垂直或斜向扫描(非接触测试)
•完全不漏水的版本设计,或者带有固定的连接电缆,或者带有水密封的连接插座(除Microdot外)
•牢固的金属盒
•用通常采用的线聚焦和点聚焦方式增加了缺陷识别的能力
•使用具有较高频率的聚合物探头,从而对非常小的非均匀性具有非常高的探测能力。
探头分为两大类:接触式和水浸式
接触法探头
直探头---单晶
·被检测件有规则外形和相对光滑的接触表面
·接触面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的声束探测
·适于穿透厚部件
·延迟块用以提高近场分辨率
·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
·通常用于手动检测
直探头--双晶
·接受发射单元用串扰挡板分开
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的声束探测
·近表面分辨率好,用于较薄部件
·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
·通常用于手动检测
斜探头
·晶片安装在内置的或者可更换的斜块上
·利用折射让纵波或者横波沿确定角度传播
·大多数标准探头通过模式转换产生横波
·适于倾斜缺陷的检测,如焊缝
·有单晶探头和双晶探头
·需要耦合层,一般为凝胶,油类,浆糊
·有时用于机械化或自动化检测
水浸法探头
水浸探头
·在水中匹配好,效率高
·适于具有不规则表面的被检测件
·通常用于机械化或者自动化检测
·耦合一致性好,检测重复性高
·大型零件可以采用探头架,溢流法或者水射流法
·探头聚焦可以增进效果