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探伤仪探头K1SM美国GE

￥8800.00

广东深圳

深圳市泰立仪器仪表有限公司

10年

指数：215

工商已认证

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图文详情
产品参数

K1SM探伤仪探头美国GE
美国GE探伤仪探头 K..S，K..SM，K..SC和MK..S（粗晶探头）：用于测试这样一类的中等尺寸和大尺寸物体，它们的材料会通过声波的散射作用（例如灰口铸铁、非铁重金属材料或者塑料合成材料等制成的物体）而导致高的声波衰减,它们也可以用于测试材料的物理特性（例如建筑材料、岩芯和半导体材料的特性）。
特性：在粗糙表面上具有稳定的耦合性

注释：
粗体=首选探头，带简短注释说明
O= 提供探头数据表
O= 提供DGS标尺
关于表中数据的解释，见第4页中选择标准。
关于声束形状见第37页中声束形状编号。

类型 [订购号码]	D[mm] [mm]	f [MHz]	AB	N [mm]	EB [mm]	声束形状编号	备注	草图
特性带宽：25%
B0.5SL B1SL B2SL	34 34 30	0.5 1 2	175-480 80-1600 40-3100	23 46 71	10 8 5	0.5-34 1-34 2-30		类型1
B1S B2S B4S B5S	24 24 24 24	1 2 4 5	70-1200 23-3000 15-3000 15-6000	23 45 88 110	6 5 3 3	1-24 2-24 4-24 5-24	提供连接器顶端类型B.S-O	类型2
MB2S MB4S MB5S	10 10 10	2 4 5	30-800 15-1500 10-2000	8 16 20	4 3 3	2-10 4-10 5-10	提供连接器顶端类型MBS-O	类型3
特性带宽：60%
K0.5S K1S K0.5SM K1SM	34 34 28 28	0.5 1 0.5 1	100-250 50-1350 80-145 40-780	23 46 15 31	10 6 8 6	0.5-34 1-34 0.5-28 1-28	具有强声波衰减的材料试的粗粒探头	类型1 类型1 类型2 类型2
合成单元，特性带宽：80%
K1SC K2SC MK1S MK2S MK4S	24 24 10 10 10	1 2 1 2 4	35-1200 18-3000 30-350 15-700 10-1300	23 45 4 8 16	6 3 6 3 2	1-24 2-24 1-10 2-10 4-10	粗粒探头特别适合于拉链技术中塑料的测试	类型2 类型3

可按用户需求提供其它衰减值（带宽）、连接插座、频率或单元尺寸的探头。

附件描述	类型	备注
保护膜（1组=10片）延迟线或延迟楔探头电缆（2米）耦合剂 DGS标尺	ES57 ES45 ES24 承索 PKLL2 MPKL2 ZG-F	用于B..SL;K..S 用于B..S;K..SM;K..SC 用于MB..S;MK..S 如用于高温下的测试用于B..和K.. 用于MB..S；MK..S 见36页见35页

品牌：	美国GE
型号：	K1SM
加工定制：	否
是否进口：	是

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