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美国GE贝克休斯B4S超声波探头
3200.00
上海金山区
上海遂欧仪器有限公司
1年 | 指数:30 | 工商已认证
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美国GE德国KK贝克休斯Waygate  B4S-EN超声波探头

纵波单晶探头

适合DGS缺陷评判

性能参数误差小,适合高精度检测

可更换保护膜,保护探头不被磨损

柔性保护膜,即使是在粗糙或轻微弯曲的表面上也能很好地耦合

合金压铸壳体,坚固耐用

用于高温检测时可加装高温延迟块(定制产品)


应用

用于检测简单形状的工件中平行于表面的缺陷

锻件、铸件

金属材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料

板材、棒材、方形材

容器、机器零件、壳体


B..S系列

 

A=30mm

B=59mm

C=45mm

D=29mm

 

系列

型号

频率

(MHZ)

接口方向

带宽

晶片直径

接口类型

保护膜

BS

B1S-EN

1

侧装

25

24mm

Lemo 01

ES45

B1S

1

B2S

2

B2.25SE

2.25

B4S

4

B5S

5

B1S-O

1

顶装

B2S-O

2

B4S-O

4

B5S-O

5

 

MB..S系列

 

A=20mm

B=43mm

C=25mm

D=15mm

 

系列

型号

频率(MHZ)

接口方向

带宽

晶片直径

接口类型

保护膜

MBS

MB1S

1

侧装

25

10mm

Lemo 00

ES24

MB2S

2

MB2S-EN

2

MB4S

4

MB4S-EN

4

MB5S

5

MB6S

6

MB2S-O

2

顶装

MB4S-O

4

MB5S-O

5

 


 
品牌:美国GE贝克休斯
型号:B4S
加工定制:
用途:超声波探伤仪探头
是否进口:
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