BeamOn X光斑分析仪，又可称为BeamOn X光斑测量仪或BeamOn X光斑光束分析仪，是DUMA激光光斑分析仪中基于CMOS成像原理的一款设备，具有良好的成本效益。另外，该设备属于CMOS光斑分析仪，采用全球快门技术，带有1/1.8英寸的检测区域，配套的软件界面友好，使用方便，能实时检测和显示光束轮廓、光斑椭圆度情况。


BeamOn X光斑测量仪的特点：
-测量光斑尺寸低至30微米
-CMOS成像
-光斑椭圆度
-准确质心定位，测量光束轮廓和能量分布
-高帧率——50 Hz 
-光谱范围——350-1310 nm
BeamOn X光斑测量仪能测量光束直径30 um - 4.5 mm的连续光或脉冲光，定位分辨率高达1 um。光束经由CMOS光斑分析仪系统成像后，软件界面将显示光束轮廓和能量分布，同时还提供质心定位、光斑椭圆度、光束尺寸数值。质心定位、光束尺寸在BeamOn X光斑光束分析仪检测过程中得出，能量分布通过颜色变化情况和能量曲线来辨别。在一定的能量强度的范围内，激光光斑分析仪系统还能测量出光斑椭圆度、长轴、短轴数值。为了保障BeamOn X光斑光束分析仪不因激光功率过高而导致设备故障，激光的功率密度应远低于损伤阈值。
 
订购信息：
Model BEAMON-X-E-FW：350-1310 nm，带衰减片转轮，转轮内含3片衰减片（NG4，NG9，NG10）
Model BEAMON-X-E：350-1310 nm，不带衰减片转轮
一套完整的激光光斑分析仪系统包括一台BeamOn X光斑分析仪（含连接线缆）、一根支柱、系统软件（存于CD/U盘）、一个小提箱。